米国 Apre Instruments社の干渉計 及び
           アップグレードサービスのご紹介



1.新型干渉計S-Series
  APRE社の新型ハイパフォーマンス干渉計S-Seriesの取り扱いを開始いたします。



APRE社独自のSCI技術により、



が可能になります。


2.干渉計アップグレードサービス
  新型干渉計S-Seriesのソフトウェア(REVEAL(TM))を活用し、
  お手持ちの干渉計のアップグレードを行います





1.新型干渉計 S-Series : ハイパフォーマンス干渉計

計測を進化させるApreの干渉縞解析システム

-エキスパートによる設計
-独自の回折限界光学設計
-高解像度イメージングシステム
-干渉計メーカが持つ問題を解消
-複数の波長と波長シフトオプション
-SCI装備







① 製品ラインアップ

[HR] Sシリーズ高分解能 - 最高性能の干渉計




[SR] Sシリーズ標準解像度 - 高性能干渉計



② ソフトウェア

■ REVEAL(TM)OEMソフトウェア:干渉縞解析ソフト



・測定からカスタムレポートまで10秒で
・Windows10 64-bit OS(7は、オプション対応)
・dat形式(Zygo)、hdf5形式(4D)ファイルに互換
・OEM干渉計との接続が可能
・ウェブブラウザ調のインターフェイス画面
・解析ツリーで計測のトレーサビリティを確認可能

<機能、および性能>

アプリケーション <BASIC (標準)>
 ・Form
 ・Radius of Curvature
<フューリエ (オプション)>
 ・MTF, PSF, PSD
<ショップテスト(オプション)>
 ・Wedge
 ・PHom
 ・Prism
 ・Corner Cube
フィルタ ・Masking
・Auto Aperture
・Reference subtract
・Box
・Erosion (inside/out)
・Median
・Individual Zernike
・Spike
・Affine Transforms
解析 ・測定モード
・Vibration Tolerant PSI
・Wavelength Shifting
・Carrier Fringe
・SCI
・Zernike
・3D View
・Sections
・PVr
・Islands
・ISO10110-14
結果 ・ISO & Seidel
・PV, RMS
・PVr
・Tilt
・Power
・Astigmatism
・Coma
・SA3

③ SCI:Spectrally Controlled Interferometry 波長コントロール干渉計測

<The Problem:マルチサーフェス干渉>


多重反射での測定問題点

・正確で反復可能な測定を妨げる
・プラスチック平行光学系
・薄いメニスカスレンズ

一般的な簡易解決方法

・青テープ
・屈折率のマッチしたジェル
・ワセリン
・一時的なコーティング





なぜ干渉縞はこんなにも複雑なんだろうかと感じませんか?



<3面空洞からのSCIデータ(TF - フロント - バック)>




<SCI Attributes)>




<SCI Thin Plate Measurement Results)>




<SCI のベネフィット(利点)>

 ・多重反射を排除します。
 ・簡単なアライメント  コヒーレント、インコヒーレント計測を切り替えられます。
 ・測定ごとの位置再調整が必要ありません。
 ・レーザースキャニングも不要です。
 ・計測された面のリアルタイム状態表示が可能です。
 ・メカニカルな駆動を必要としない位相シフト
 ・フィゾーキャビティーに制限がありません。
 ・縞の位置ズレは1カメラフレーム以内(要確認)
 ・コモンパスなフィゾー式設計


お客様 (抜粋)



※「上記ロゴマークは各社の商標または登録商標です」




2.干渉計アップグレードサービス



・1K x 1Kデジタル計測用カメラ
・最新の電子機器と新しいデジタルアライメント用カメラ
・振動に強い位相シフト縞画像取得
・最新の64 Bit WindowsR OS 搭載PCによる制御
・REVEAL(TM)ソフトウェア:10秒未満で測定からレポート表示



各有名干渉計メーカーの干渉計に対応





① 干渉計測ノウハウ、経験を持っていること

⇒ カスタマイズニーズを具現化できます


② 豊富な干渉計アクセサリーを持っていること

⇒ エクスパンダー、レデューサーなど自社製アクセサリーを保有
  (φ33~φ500に対応。TSカスタマイズもお受けしています)


③ 計測レンジ、計測目的に合わせたソフトウェア提案ができること

⇒ Apre社製「REVEAL」をはじめとしたお客様ニーズに合わせた柔軟なソフト提案可能



お悩み

     パソコンのOSのサポートがなくなり、使えない干渉計がある


解決

       カメラ、ソフトウェア、パソコンの更新・調整し再活用












Apre社について

■ Apre Instruments 社(米国/USA)

2013年創業

 -創業者が発明したコアテクノロジ
 ・環境振動に強い     ・振動に強い位相シフトアルゴリズム
 ・非球面計上に測定    ・ノイズの多いデータからしっかりしたデータ取得
 ・グラフィック形式のユーザーインターフェイスソフトウェア
 ・波長をコントロールした干渉計測

アメリカ東、西海岸にオフィスを設置

 -開発、製造、営業拠点/ Tucson,AZ
 -管理、マーケティング拠点/ Middletown, CT

人員拡大中

 -光学科学者 博士号取得者3名
 -修士号取得エンジニア1名& 修士号取得オプトメカニカルエンジニア1名
 -製造スタッフ、エンジニアリング・ロジスティクス 4名
 -マーケティングセールス 2名
 -学生インターン 2名
 -全世界的な営業、ディストリビューションチャンネル

新拠点:5,200 ft2 (500 m2) ← 2016から2倍に拡張


■ Apre Instruments: Who we are

・測定技術にフォーカス: 不計測のバラツキとトレーサビリティの追求
・顧客の必要性に柔軟な対応
・豊富な光学計測知識
・光学業界に特化

“高品質と応答性の高いサポートによる革新である。
  F. Tinker, President AOS

“Apreには良い意味で非常に驚かされることばかりであり、今後とも長いお付き合いを望むところだ。"
  Ted K., Blue Ridge Optics


■ Apreの優れた技術から提供する製品とサービス







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