米国 Apre Instruments社の干渉計 及び
           アップグレードサービスのご紹介



① 新型干渉計S-Series
  APRE社の新型ハイパフォーマンス干渉計S-Seriesの取り扱いを開始いたします。



APRE社独自のSCI技術により、



が可能になります。


② 干渉計アップグレードサービス
  新型干渉計S-Seriesのソフトウェア(REVEAL(TM))を活用し、
  お手持ちの干渉計のアップグレードを行います



③ 2018/4/26 ワークショップのご案内 ※終了しました




Ⅰ.最先端の干渉計技術による光学部品製造プロセスの改善

■ Apre Instruments 社(米国/USA)

2013年創業

 -創業者が発明したコアテクノロジ
 ・環境振動に強い     ・振動に強い位相シフトアルゴリズム
 ・非球面計上に測定    ・ノイズの多いデータからしっかりしたデータ取得
 ・グラフィック形式のユーザーインターフェイスソフトウェア
 ・波長をコントロールした干渉計測

アメリカ東、西海岸にオフィスを設置

 -開発、製造、営業拠点/ Tucson,AZ
 -管理、マーケティング拠点/ Middletown, CT

人員拡大中

 -光学科学者 博士号取得者3名
 -修士号取得エンジニア1名& 修士号取得オプトメカニカルエンジニア1名
 -製造スタッフ、エンジニアリング・ロジスティクス 4名
 -マーケティングセールス 2名
 -学生インターン 2名
 -全世界的な営業、ディストリビューションチャンネル

新拠点:5,200 ft2 (500 m2) ← 2016から2倍に拡張


■ Apre Instruments: Who we are

・測定技術にフォーカス: 不計測のバラツキとトレーサビリティの追求
・顧客の必要性に柔軟な対応
・豊富な光学計測知識
・光学業界に特化

“高品質と応答性の高いサポートによる革新である。
  F. Tinker, President AOS

“Apreには良い意味で非常に驚かされることばかりであり、今後とも長いお付き合いを望むところだ。"
  Ted K., Blue Ridge Optics


■ Apreの優れた技術から提供する製品とサービス



■ S-Series: ハイパフォーマンス干渉計


計測を進化させるApreの干渉縞解析システム

-エキスパートによる設計
-独自の回折限界光学設計
-高解像度イメージングシステム
-干渉計メーカが持つ問題を解消
-複数の波長と波長シフトオプション
-SCI装備







■ Sシリーズ高分解能 - 最高性能の干渉計



■ Sシリーズ標準解像度 - 高性能干渉計



■ REVEAL(TM)OEMソフトウェア:干渉縞解析ソフト



・測定からカスタムレポートまで10秒で
・Windows10 64-bit OS(7は、オプション対応)
・dat形式(Zygo)、hdf5形式(4D)ファイルに互換
・OEM干渉計との接続が可能
・ウェブブラウザ調のインターフェイス画面
・解析ツリーで計測のトレーサビリティを確認可能

<機能、および性能>

アプリケーション <BASIC (標準)>
 ・Form
 ・Radius of Curvature
<フューリエ (オプション)>
 ・MTF, PSF, PSD
<ショップテスト(オプション)>
 ・Wedge
 ・PHom
 ・Prism
 ・Corner Cube
フィルタ ・Masking
・Auto Aperture
・Reference subtract
・Box
・Erosion (inside/out)
・Median
・Individual Zernike
・Spike
・Affine Transforms
解析 ・測定モード
・Vibration Tolerant PSI
・Wavelength Shifting
・Carrier Fringe
・SCI
・Zernike
・3D View
・Sections
・PVr
・Islands
・ISO10110-14
結果 ・ISO & Seidel
・PV, RMS
・PVr
・Tilt
・Power
・Astigmatism
・Coma
・SA3

■ 理論的な性能限界へのアップグレード/修復



・1K x 1Kデジタル計測用カメラ
・最新の電子機器と新しいデジタルアライメント用カメラ
・振動に強い位相シフト縞画像取得
・最新の64 Bit WindowsR OS 搭載PCによる制御
・REVEAL(TM)ソフトウェア:10秒未満で測定からレポート表示





お客様 (抜粋)



※「上記ロゴマークは各社の商標または登録商標です」




Ⅱ.SCI:Spectrally Controlled Interferometry
  波長コントロール干渉計測法

■ The Problem:マルチサーフェス干渉


多重反射での測定問題点

・正確で反復可能な測定を妨げる
・プラスチック平行光学系
・薄いメニスカスレンズ

一般的な簡易解決方法

・青テープ
・屈折率のマッチしたジェル
・ワセリン
・一時的なコーティング





なぜ干渉縞はこんなにも複雑なんだろうかと感じませんか?



■ 3面空洞からのSCIデータ(TF - フロント - バック)



■ SCI Attributes



■ SCI Thin Plate Measurement Results



■ SCI のベネフィット(利点)

・多重反射を排除します。
・簡単なアライメント  コヒーレント、インコヒーレント計測を切り替えられます。
・測定ごとの位置再調整が必要ありません。
・レーザースキャニングも不要です。
・計測された面のリアルタイム状態表示が可能です。
・メカニカルな駆動を必要としない位相シフト
・フィゾーキャビティーに制限がありません。
・縞の位置ズレは1カメラフレーム以内(要確認)
・コモンパスなフィゾー式設計







Ⅲ.ワークショップのご案内 ※終了しました

この度、株式会社清原光学は、米国Apre Instruments(以下、Apre)社の製品を販売代理する事となりました。つきましては、「Apre社製品」をテーマに、弊社主催のワークショップを開催させて頂きます。光学製品の品質向上を求められる昨今において、Apre社の干渉計を実機にてご確認頂けるプログラムをご用意しております。

ご多忙中とは存じますが、ご興味のある方はぜひご参加くださいますようお願い申し上げます。

 なおご参加いただける場合は、お手数ですが4月12日までに、参加時間をご記入の上、下記申込み先へE-mailにてお申込みいただきますようお願いいたします。




1, 日 時 2018年4月26日(木曜日)
1回目:10時00時~11時30分
2回目:13時30分~15時00分
3回目:15時30分~17時00分
2, 会 場 神奈川県近代文学館 中会議室
3, 交 通 横浜高速鉄道 みなとみらい線 元町・中華街駅下車 徒歩10分
http://www.kanabun.or.jp/guidance/access/

4, 対 象 干渉計にご興味のある方、古い干渉計をアップグレードや再利用したい方
5, プログラム (同じセッションを3回行いますのでご都合の良い時間にお越し下さい)
・Apre社の紹介、アップグレードの紹介
・干渉計 Sシリーズの紹介
・新開発製品 SCIの紹介
6, お申込み方法 E-mailアドレス:apre@koptic.co.jp
E-Mailにて、会社名・お名前・電話番号・メールアドレスを記入して送付ください。
7, お問い合わせ先 電話番号:03-5918-8501
住所:東京都板橋区舟渡3-28-10
担当者:角田智彦


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