宇宙レベルの光学技術で「見えない」を「見える」に！｜株式会社清原光学

　今までの干渉計では、
　薄いものが検査できなくて
　困っている

　今までの干渉計では、
　プリズムの検査に手間が
　かかっている

　今まで均質性（ホモジニティ）
　を測れなかった

　保証ができない

　作業効率が悪い

　内部欠陥は、製品が
　完成してからでないと
　わからなかった